Three-level unitary interconnect structure

   
   

An interconnect structure, which can have three-levels, is formed by a metallization method in an electrical circuit. The method comprises providing a substrate assembly and depositing thereon a first dielectric layer thereover. A second dielectric layer is then deposited over the first dielectric layer. The second dielectric layer is patterned and anisotropically etched to form contact corridors. The second dielectric layer is again patterned and etched to form trenches, some of which are immediately above the contact corridors. An electrically conductive material is deposited to fill the contact corridors and trenches, and to leave a portion of the electrically conductive material above the second dielectric layer and directly above both the contact corridors and the trenches. The deposition forms a unitary three-level interconnect having a contiguous trench below a contact corridor below a metal line, where the metal line is above the second dielectric layer. An optional antireflective coating can be deposited to assist in filling the trenches and contact corridor. Finally, patterning and etching of the electrically conductive material above the second dielectric layer forms metal lines for the electrical circuit.

Eine Verknüpfung Struktur, die Dreiniveaus haben kann, wird durch eine Metallizationmethode in einem elektrischen Stromkreis gebildet. Die Methode enthält ein Substrat darauf zur Verfügung stellen und ein erstes dielektrisches Schicht thereover niederlegen. Eine zweite dielektrische Schicht ist dann niedergelegter Überschuß die erste dielektrische Schicht. Die zweite dielektrische Schicht wird patterned und anisotropically geätzt, um Kontaktflure zu bilden. Die zweite dielektrische Schicht wird wieder patterned und geätzt, um Gräben zu bilden, von denen einige sofort über den Kontaktfluren sind. Ein elektrisch leitendes Material wird, um die Kontaktflure und -gräben zu füllen, niedergelegt und einen Teil des elektrisch leitenden Materials über der zweiten dielektrischen Schicht und direkt über den Kontaktfluren und den Gräben zu lassen. Die Absetzung bildet eine einheitliche dreiniveauverknüpfung, die einen angrenzenden Graben unter einem Kontaktflur unterhalb einer Metalllinie hat, in der die Metalllinie über der zweiten dielektrischen Schicht ist-. Eine wahlweise freigestellte antireflective Schicht kann niedergelegt werden, um, im Füllen der Gräben, zu unterstützen und mit Flur in Verbindung zu treten. Schließlich bildet patterning und das Ätzen des elektrisch leitenden Materials über der zweiten dielektrischen Schicht Metalllinien für den elektrischen Stromkreis.

 
Web www.patentalert.com

< Method for integrating passives on-die utilizing under bump metal and related structure

< Sample preparation apparatus and method

> Semiconductor device using a multilayer wiring structure

> Electrical die contact structure and fabrication method

~ 00127