A semiconductor integrated circuit device includes a transmitting circuit
capable of converting first parallel signals to a first serial signal, a
receiving circuit capable of converting a second serial signal to second
parallel signals, a test signal generating circuit, and an operation
judging circuit, all of which are formed on a single semiconductor chip.
The test signal generating circuit and the operation judging circuit are
formed so as to operate in accordance with a clock having a frequency
corresponding to a transfer rate of the first or second parallel signals.
Приспособление интегрированной цепи полупроводника вклюает передавая цепь способную преобразовывать первые сигналы параллели к первому серийному сигналу, получая цепи способной преобразовывать второй серийный сигнал к вторым сигналам параллели, испытательный сигнал производя цепь, и деятельность судя цепь, все из которой сформированы на одиночном обломоке полупроводника. Испытательный сигнал производя цепь и деятельность судя цепь сформированы для того чтобы работать в соответствии с часами имея частоту соответствовать к тарифу перехода первого или во-вторых сигналам параллели.
