Cyclical deposition of tungsten nitride for metal oxide gate electrode

   
   

A method for depositing a tungsten nitride layer is provided. The method includes a cyclical process of alternately adsorbing a tungsten-containing compound and a nitrogen-containing compound on a substrate. The barrier layer has a reduced resistivity, lower concentration of fluorine, and can be deposited at any desired thickness, such as less than 100 angstroms, to minimize the amount of barrier layer material.

Un método para depositar una capa del nitruro del tungsteno se proporciona. El método incluye un proceso cíclico alternativamente de fijar un compuesto tungsteno-que contiene y un compuesto por adsorcio'n nitrogen-containing en un substrato. La capa de barrera tiene una resistencia reducida, una concentración más baja del flúor, y se puede depositar en cualquier grueso deseado, tal como menos de 100 angstromes, para reducir al mínimo la cantidad de material de la capa de barrera.

 
Web www.patentalert.com

< Deposition of tungsten films

< Method of reducing an electrostatic charge on a substrate during a PECVD process

> Method of forming integrated circuit contacts

> Method of forming an FeRAM having a multi-layer hard mask and patterning thereof

~ 00151