Process for charged particle beam micro-machining of copper

   
   

A micro-machining process that includes etching a substrate having copper overlying a dielectric layer to a charged particle beam in the presence of an etch assisting agent. The etch assisting agent is selected from the group consisting of ammonia, acetic acid, thiolacetic acid, and combinations thereof.

Een micro-machinaal bewerkend proces dat het etsen van een substraat omvat dat koper heeft dat een diƫlektrische laag bedekt aan een geladen deeltjesstraal in aanwezigheid van etst bijwonende agent. Ets bijwonende agent wordt geselecteerd uit de groep die uit ammoniak, azijnzuur, thiolacetic zuur, en combinaties daarvan bestaat.

 
Web www.patentalert.com

< Reactive deposition for the formation of chip capacitors

< Retaining ring for holding semiconductor wafers in a chemical mechanical polishing apparatus

> Electrode-less dielectrophorises for polarizable particles

> Diagnosis and treatment of medical conditions associated with defective NFkappa B(NF-.kappa.B) activation

~ 00147