An on-chip apparatus and method for measuring signal skew between two on-chip signals are provided. The apparatus and method generate a pulse train which is at a first state during a time period between a clocking of a circuit component and a time at which the circuit component generates an output signal, and a second state between clockings of the circuit component. The pulse width of the pulses in the pulse train is representative of the skew, i.e. change of phases or timing, in the signal due to the presence of the component. The pulse train may further be pseudo-clock divided to generate more measurable pulses. The output from is produced using a single output pad. The apparatus and method produce a long measurable pulse width on a single output pad. A pulse width of 10 s of ns is achievable instead of 1-2 ns as in the known art. The pulse width measurement is done with a single tester channel instead of two as in the known art.

Μια συσκευή και μια μέθοδος-ΤΣΙΠ για τη λοξή κίνηση σημάτων μεταξύ δύο σημάτων-ΤΣΙΠ παρέχονται. Οι συσκευές και η μέθοδος παράγουν ένα τραίνο σφυγμού που είναι σε ένα πρώτο κράτος κατά τη διάρκεια ενός χρονικού διαστήματος μεταξύ μιας χρονομέτρησης ενός τμήματος κυκλωμάτων και ενός χρόνου στους οποίους το τμήμα κυκλωμάτων παράγει ένα σήμα παραγωγής, και ένα δεύτερο κράτος μεταξύ των χρονομετρήσεων του τμήματος κυκλωμάτων. Το πλάτος σφυγμού των σφυγμών στο τραίνο σφυγμού είναι αντιπροσωπευτικό της λοξής κίνησης, δηλ. αλλαγή των φάσεων ή του συγχρονισμού, στο σήμα λόγω στην παρουσία του συστατικού. Το τραίνο σφυγμού μπορεί περαιτέρω να είναι ψευδο-ρολόι που διαιρείται για να παραγάγει περισσότερους μετρήσιμους σφυγμούς. Η παραγωγή από παράγεται χρησιμοποιώντας ένα ενιαίο μαξιλάρι παραγωγής. Οι συσκευές και η μέθοδος παράγουν ένα μακροχρόνιο μετρήσιμο πλάτος σφυγμού σε ένα ενιαίο μαξιλάρι παραγωγής. Ένα πλάτος σφυγμού 10 s του NS είναι επιτεύξιμο αντί 1-2 NS όπως στη γνωστή τέχνη. Η μέτρηση πλάτους σφυγμού γίνεται με ένα ενιαίο κανάλι ελεγκτών αντί δύο όπως στη γνωστή τέχνη.