A method of inserting test points in a circuit design includes selecting a
node in the circuit design, determining a driver cell of the node,
selecting a replacement cell for the driver cell and replacing the driver
cell in the circuit design with the replacement cell. The replacement cell
has the same function of the driver cell as well as a test point function.
Additionally, the replacement cell is chosen so as not to break timing.
Um método de introduzir pontos de teste em um projeto de circuito inclui selecionar um nó no projeto de circuito, determinar uma pilha do excitador do nó, selecionar uma pilha da recolocação para a pilha do excitador e substituir a pilha do excitador no projeto de circuito com a pilha da recolocação. A pilha da recolocação tem a mesma função da pilha do excitador as.well.as uma função do ponto de teste. Adicionalmente, a pilha da recolocação é escolhida de modo a para não quebrar o sincronismo.
