A method for testing a device-under-test (DUT) includes examining a test
data file that includes test data for testing the structure,
functionality and/or performance of the DUT. The method also includes
separating a first plurality of data units from a second plurality of
data units contained in the test data file. The first plurality of data
units correspond to a first plurality of DUT pins, and the second
plurality of data units correspond to a second plurality of DUT pins.
Um método para testar um dispositivo-sob-teste (DUT) inclui examinar um arquivo de dados de do teste que inclua dados de teste para testar a estrutura, a funcionalidade e/ou o desempenho do DUT. O método inclui também a separação de um primeiro plurality de unidades de dados de um segundo plurality das unidades de dados contidas no arquivo de dados de do teste. O primeiro plurality de unidades de dados corresponde a um primeiro plurality dos pinos de DUT, e o segundo plurality de unidades de dados corresponde a um segundo plurality dos pinos de DUT.
