A fluorescence spectrometer comprises a laser and at least one beam
splitter positioned to receive a light beam from the laser and to divide
it into several first light beam portions. Dichroic mirrors are positioned
to separately receive the first light beam portions and to reflect the
beam portions at an angle to the first light beam portions. Transparent
chambers are provided for holding the samples. Objective lens systems are
respectively positioned in the path of the reflected beam portions to
respectively focus each reflected beam portion to a point within one of
the separate transparent chambers. Lenses are positioned to receive
fluorescence from a sample for testing within the transparent chambers and
to respectively focus the fluorescence at pin holes in opaque partitions.
The lenses are positioned to receive the fluorescence, which passes back
through the objective lens system and the dichroic mirror. Light detectors
are each respectively positioned adjacent to one of the partitions, with
one of the partitions respectively positioned between each of the lens and
the light detectors to permit each light detector to sense fluorescence
through the pin hole. Electronics are provided to receive and process
signals from each light detector. Structure is provided to permit high
speed data collection from a large number of samples in separate,
transparent chambers.
Ένα φασματόμετρο φθορισμού περιλαμβάνει ένα λέιζερ και τουλάχιστον έναν θραύστη ακτίνων που τοποθετούνται για να λάβει μια ελαφριά ακτίνα από το λέιζερ και για να την διαιρέσει σε διάφορες πρώτες μερίδες ελαφριών ακτίνων. Οι διχροϊκοί καθρέφτες τοποθετούνται για να λάβουν χωριστά τις πρώτες μερίδες ελαφριών ακτίνων και για να απεικονίσουν τις μερίδες ακτίνων διαγωνίως στις πρώτες μερίδες ελαφριών ακτίνων. Οι διαφανείς αίθουσες παρέχονται για το κράτημα των δειγμάτων. Τα αντικειμενικά συστήματα φακών τοποθετούνται αντίστοιχα στην πορεία των απεικονισμένων μερίδων ακτίνων για να στρέψουν αντίστοιχα κάθε απεικονισμένη μερίδα ακτίνων σε ένα σημείο μέσα σε μια από τις χωριστές διαφανείς αίθουσες. Οι φακοί τοποθετούνται για να λάβουν το φθορισμό από ένα δείγμα για τη δοκιμή μέσα στις διαφανείς αίθουσες και για να στρέψουν αντίστοιχα το φθορισμό στις τρύπες καρφιτσών στα αδιαφανή χωρίσματα. Οι φακοί τοποθετούνται για να λάβουν το φθορισμό, ο οποίος περνά πίσω μέσω του αντικειμενικού συστήματος φακών και του διχροϊκού καθρέφτη. Οι ελαφριοί ανιχνευτές κάθε ένας τοποθετούνται αντίστοιχα δίπλα σε ένα από τα χωρίσματα, με ένα από τα χωρίσματα που τοποθετούνται αντίστοιχα μεταξύ κάθε ενός από το φακό και των ελαφριών ανιχνευτών για να επιτρέψουν κάθε ελαφρύ ανιχνευτή στο φθορισμό αίσθησης μέσω της τρύπας καρφιτσών. Η ηλεκτρονική παρέχεται για να λάβει και να επεξεργαστεί τα σήματα από κάθε ελαφρύ ανιχνευτή. Η δομή παρέχεται για να επιτρέψει την υψηλή συλλογή δεδομένων ταχύτητας από έναν μεγάλο αριθμό δειγμάτων στις χωριστές, διαφανείς αίθουσες.
