Polymers, resist compositions and patterning process, novel tetrahydrofuran compounds and their preparation

   
   

A polymer comprising recurring units of formula (1-1) or (1-2) wherein R.sup.1, R.sup.2, R.sup.3 and R.sup.4 are H or alkyl, or R.sup.1 and R.sup.2, and R.sup.3 and R.sup.4 taken together may form a ring with each pair being alkylene, and k is 0 or 1 and having a Mw of 1,000-500,000 is novel. A resist composition comprising the polymer as a base resin is sensitive to high-energy radiation, has excellent sensitivity, resolution, etching resistance, and minimized swell and lends itself to micropatterning with electron beams or deep-UV. ##STR1##

Un polymère comportant les unités se reproduisantes de la formule (1-1) ou (1-2) où R.sup.1, R.sup.2, R.sup.3 et R.sup.4 sont H ou alkyl, ou R.sup.1 et R.sup.2, et R.sup.3 et R.sup.4 pris ensemble peuvent former un anneau avec chaque paire étant alkylène, et k est 0 ou 1 et avoir un Mw de 1.000-500.000 est roman. Une composition en résistance comportant le polymère comme résine basse est sensible au rayonnement de grande énergie, a l'excellente sensibilité, la résolution, gravant à l'eau-forte la résistance, et la bosse réduite au minimum et se prête à micropatterning avec des faisceaux d'électrons ou profond-UV. ## du ## STR1

 
Web www.patentalert.com

< Method for recycling the resin mold

< Method of processing light sensitive planographic printing plate precursor

> Low abosorbing resists for 157 nm lithography

> Positive photoresist composition for far ultraviolet exposure

~ 00133