Method and apparatus for testing an SDRAM memory used as the main memory in a personal computer

   
   

A method and an apparatus for testing an SDRAM are described. The SDRAM is used as a main memory in the PC, and an additional circuit configuration is accommodated on a plug-in board and has an additional memory in the form of an SRAM and logic circuits. The method according to the invention allows the SDRAM to be tested in a module bank in the running PC to be set deliberately to a test mode. In this case the code for test mode activation is modified by a high-level language program (PASCAL) in accordance with the user requirements, is copied to the additional memory on the plug-in board, and is then called by the high-level language program using MS DOS. After activation of the selected test mode by a code programmed in Assembler, a defined jump is made back to the calling program once again. This allows the use of the test mode provided in the SDRAM in standard PCs and using standard operating systems. This greatly increases the test options for SDRAMs on standard PCs.

Um método e um instrumento para testar um SDRAM são descritos. O SDRAM é usado como uma memória principal no PC, e uma configuração de circuito adicional é acomodada em uma placa de encaixe e tem uma memória adicional no formulário de um SRAM e de circuitos de lógica. O método de acordo com a invenção permite que o SDRAM seja testado em um banco do módulo no PC do corredor a ser ajustado deliberadamente a uma modalidade do teste. Neste argumento o código para a ativação da modalidade do teste é modificado por um programa da língua high-level (PASCAL) de acordo com as exigências de usuário, copí à memória adicional na placa de encaixe, e chamado então pelo programa da língua high-level usando o MS DOS. Após a ativação da modalidade selecionada do teste por um código programado no ajuntador, um salto definido é feito para trás ao programa de chamada uma vez outra vez. Isto permite o uso da modalidade do teste fornecida no SDRAM em PCES padrão e em usar sistemas operando-se padrão. Isto aumenta extremamente as opções do teste para SDRAMs em PCES padrão.

 
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