Surface plasmon resonance sensor

   
   

Surface plasmon resonance (SPR) sensors comprise a sensor chip constructed of laterally integrated arrays of planar sensor chip units and an optical transducer constructed of laterally integrated arrays of planar optical transducer units. The replaceable sensor chip is separated from the optical transducer by a gap and perpendicular optical interconnections are between the sensor chip and the optical transducer. The optical interconnections between the sensor chip and the optical transducer are based on collimated light beams incident perpendicularly to the interfaces. Uncritical alignment of the optical transducer and the sensor chip is provided. The direction of the light beams will not be changed when passing through the interfaces between the sensor chip, the gap and the optical transducer eliminating the need of disposing refractive index matching gels in the gap.

I sensori di superficie di risonanza del plasmon (SPR) contengono un circuito integrato del sensore costruito con allineamenti lateralmente integrati delle unità planari del circuito integrato del sensore e di un trasduttore ottico costruito con allineamenti lateralmente integrati delle unità ottiche planari del trasduttore. Il circuito integrato sostituibile del sensore è separato dal trasduttore ottico da uno spacco e le interconnessioni ottiche perpendicolari sono fra il circuito integrato del sensore ed il trasduttore ottico. Le interconnessioni ottiche fra il circuito integrato del sensore ed il trasduttore ottico sono basate perpendicolarmente sull'avvenimento collimato dei raggi di luce alle interfacce. L'allineamento non critico del trasduttore ottico e del circuito integrato del sensore è fornito. Il senso dei raggi di luce non sarà cambiato quando passa attraverso le interfacce fra il circuito integrato del sensore, lo spacco ed il trasduttore ottico eliminanti il bisogno di disposizione dei gel di corrispondenza di indice di rifrazione nello spacco.

 
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< Analytical method and apparatus

> Polarization analysis unit, calibration method and optimization therefor

> Ellipsometric method and control device for making a thin-layered component

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