Configuration for generating signal impulses of defined lengths in a module with a bist-function

   
   

In the configuration, the module can "learn" one or more time intervals from the external tester and then repeat them internally or compare them to its own internally measured time intervals, for instance, for the purpose of evaluating whether the module in question has crossed a time specification value or remains below the value. The module can also measure and store one or more internal time intervals and transmit them to the external tester in digital or analog form.

Στη διαμόρφωση, η ενότητα μπορεί "να μάθει" ένα ή περισσότερα χρονικά διαστήματα από τον εξωτερικό ελεγκτή και να τα επαναλάβει έπειτα εσωτερικά ή να τα συγκρίνει με τα εσωτερικά μετρημένα χρονικά διαστήματά της, παραδείγματος χάριν, με σκοπό την αξιολόγηση εάν η ενότητα εν λόγω έχει διασχίσει μια αξία χρονικών προδιαγραφών ή παραμένει κάτω από την αξία. Η ενότητα μπορεί επίσης να μετρήσει και να αποθηκεύσουν ένα ή περισσότερα εσωτερικά χρονικά διαστήματα και να τα διαβιβάσει στον εξωτερικό ελεγκτή με ψηφιακή ή αναλογική μορφή.

 
Web www.patentalert.com

< Short edge smoothing for enhanced scatter bar placement

< Design methodology for merging programmable logic into a custom IC

> Test data generating system and method to test high-speed actual operation

> Turbo decoder with modified input for increased code word length and data rate

~ 00107