Apparatus and method for generating a set of test vectors using nonrandom filling

   
   

The present invention is generally directed to an improved automatic test pattern generator for generating test patterns that are used by an integrated circuit testing device. In accordance with one aspect of the invention, a method is provided for generating a set of test vectors for testing an integrated circuit, each test vector of the set of test vectors containing a plurality of bits defining test inputs for the integrated circuit. The method includes the steps of defining a list of faults for the integrated circuit, and generating at least one test vector that defines values for those inputs necessary to detect at least one target fault selected from the list of faults, the values comprising only a portion of the bits of the at least one test vector, wherein a remainder of the bits in the at least one test vector are unspecified bit positions. The method further includes the step of setting the values of a plurality of the unspecified bit positions using a non-random filling methodology.

La actual invención se dirige generalmente a un generador de patrón de prueba automático mejorado para generar los patrones de prueba que son utilizados por un dispositivo de la prueba de circuito integrado. De acuerdo con un aspecto de la invención, un método se proporciona para generar un sistema de los vectores de la prueba para probar un circuito integrado, cada vector de la prueba del sistema de la prueba vectors contener una pluralidad de pedacitos que definen las entradas de la prueba para el circuito integrado. El método incluye los pasos de definir una lista de las averías para el circuito integrado, y de generar por lo menos un vector que defina los valores para esas entradas necesarias para detectar por lo menos una avería de la blanco seleccionada de la lista de averías, los valores de la prueba que abarcan solamente una porción de los pedacitos del por lo menos un vector de la prueba, en donde un resto de los pedacitos en el por lo menos un vector de la prueba es posiciones de pedacito sin especificar. El método más futuro incluye el paso de fijar los valores de una pluralidad de las posiciones de pedacito sin especificar usando una metodología que llena no-al azar.

 
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