Zero-crossing direction and time interval jitter measurement apparatus using offset sampling

   
   

A sampling apparatus for use in high data rate jitter measurement systems based on offset sampling uses a trigger circuit, along with a time-based variable delay, to align a sampling strobe to drive two samplers. An input data signal is split and fed via separate signal paths into the two samplers. One of the samplers is delayed in sampling the input signal or the input is delayed to one of the samplers, such that the two samples of the input signal are offset in time. The jitter present in the SUT can be calculated using the two samples. In addition, when using two strobe circuits, the jitter inherently present in the strobe circuits can be compensated for by offset sampling a reference clock with each main strobe to determine the phase and cycle number of the reference clock at each strobe time.

Een bemonsteringsapparaat voor gebruik in hoge de metingssystemen van het gegevenstarief jitter die op compensatiebemonstering worden gebaseerd gebruikt een trekkerkring, samen met een op tijd-gebaseerde veranderlijke vertraging, om een bemonsteringsstroboscoop te richten om twee monstertrekkers te drijven. Een signaal van inputgegevens is verdeeld en gevoed via afzonderlijke signaalwegen in de twee monstertrekkers. Één van de monstertrekkers wordt vertraagd in het bemonsteren van het inputsignaal of de input wordt vertraagd aan één van de monstertrekkers, dusdanig dat de twee steekproeven van het inputsignaal op tijd worden gecompenseerd. Jitter huidig in SUT kan worden berekend gebruikend de twee steekproeven. Bovendien wanneer het gebruiken van twee stroboscoopkringen, kan jitter inherent huidig in de stroboscoopkringen door compensatie worden gecompenseerd bemonsterend een verwijzingsklok met elke hoofdstroboscoop om het fase en cyclusaantal van de verwijzingsklok in elke stroboscooptijd te bepalen.

 
Web www.patentalert.com

< Optical fiber, optical fiber cable, and radiation detecting system using such

< Optical systems and methods using coupling fixtures for aligning optical elements with planar waveguides

> Method and system for providing secure digital music duplication

> Method and measuring instrument for determining the position of an edge of a pattern element on a substrate

~ 00166