A memory fault analyzer having a comparator and fault analyzer storage is
disclosed along with a method of testing faults of the memory using a
built in fault analyzer. The memory is tested by writing a known data onto
a bit, reading the bit for stored data, comparing the known data with the
stored data, and storing address of faulty bits in the fault analyzer.
Because the fault analyzer is built in with the memory, the process is
very fast. And, the fault analyzer may count the number of rows and the
number of columns requiring replacement, compare the counted numbers with
the number of available redundant rows and columns, and generate a
repairability signal.
Анализатор недостатка памяти имея хранение анализатора компаратора и недостатка показан вместе с методом испытывать недостатки памяти использующ построенные в анализаторе недостатка. Память испытана путем писание знанных данных на бит, читать бит для, котор хранят данных, сравнивать знанные данные с, котор хранят данными, и хранить адрес небезупречных битов в анализаторе недостатка. Потому что анализатор недостатка построен внутри с памятью, процесс очень быстро. И, анализатор недостатка может подсчитать число рядков и число колонок требуя замены, сравнить подсчитанные номера с числом имеющихся резервных рядков и колонок, и произвести сигнал repairability.
