Methods and apparatus are provided for connecting a manufacturing test interface to a global serial bus, such as an inter integrated circuit (I.sup.2 C) bus. Input/output buffer logic buffers data to be transferred to and from the global serial bus. A slave interface logic connected to the input/output buffer logic receives and sends data to the input/output buffer logic. A slave controller coupled to the input/output buffer logic and the slave interface logic paces data exchange to the input/output buffer logic. Error detection logic is coupled between the input/output buffer and the global serial bus for detecting error conditions.

Os métodos e os instrumentos são fornecidos conectando uma relação do teste do manufacturing a uma barra-ônibus de série global, tal como um circuito integrado inter (barra-ônibus de I.sup.2 C). A lógica do amortecedor do input/output protege os dados a ser transferidos a e da barra-ônibus de série global. Uma lógica slave da relação conectada à lógica do amortecedor do input/output recebe e emite dados à lógica do amortecedor do input/output. Um controlador slave acoplado à lógica do amortecedor do input/output e o escravo conectaram a troca de dados dos ritmos da lógica à lógica do amortecedor do input/output. A lógica da deteção de erro é acoplada entre o amortecedor do input/output e a barra-ônibus de série global para detectar condições de erro.