The present invention involves a method for determining constant pins in a combinational circuit. The method comprises the steps of associating an input of a combinational circuit with a first variable and a second variable, wherein said second variable is the compliment of said first variable, computing for a first logical cell interconnected to said input a first canonical representation, wherein said first canonical representation is a function of the operation of said first logical cell and a function of said first value, computing for said first logical cell a second canonical representation, wherein said second canonical representation is a function of the operation of said first logical cell and a function of said second value, determining whether one of said first and second canonical representations is equal to zero.

De onderhavige uitvinding impliceert een methode voor het bepalen constante spelden in een combinatiekring. De methode bestaat uit de stappen van het associëren van een input van een combinatiekring met een eerste veranderlijke en tweede variabele die, waarin de bovengenoemde tweede variabele het compliment van bovengenoemde eerst variabele is, voor een eerste logische cel gegevens verwerkt die aan bovengenoemde input onderling wordt verbonden een eerste canonieke vertegenwoordiging die, waarin de bovengenoemde eerste canonieke vertegenwoordiging een functie van de verrichting van bovengenoemde eerste logische cel en een functie van bovengenoemde eerste waarde is, voor bovengenoemde eerste logische cel een tweede canonieke vertegenwoordiging gegevens verwerkt die, waarin de bovengenoemde tweede canonieke vertegenwoordiging een functie van de verrichting van bovengenoemde eerste logische cel en een functie van bovengenoemde tweede waarde is bepaalt, of één van eerst gezegd en de tweede canonieke vertegenwoordiging aan gelijk zijn

 
Web www.patentalert.com

< Method of constructing an integrated circuit comprising an embedded macro

< Apparatus for and method of preparing pattern data of electronic part

> Semiconductor device having dummy pattern

> Current controlled multi-state parallel test for semiconductor device

~ 00063