A digital component test apparatus is provided. The apparatus includes a network environment, a client computer, a server computer, a device and an application program. The client computer is operatively connected with the network environment. The server computer is operatively connected with the network environment. The device has an electronic assembly and an interface port. The interface port is configured to connect the client computer with the electronic assembly. The application program is transferred from the network server to the client computer via the network. The application program includes a boundary scan test procedure operative to test operation of the electronic assembly. A method for remotely testing a peripheral device having an electronic assembly is also provided.

Un'apparecchiatura componente digitale della prova è fornita. L'apparecchio include un ambiente della rete, un calcolatore del cliente, un calcolatore di assistente, un dispositivo e un programma di applicazione. Il calcolatore del cliente è collegato attivamente con l'ambiente della rete. Il calcolatore di assistente è collegato attivamente con l'ambiente della rete. Il dispositivo ha un complessivo elettronico e un orificio dell'interfaccia. L'orificio dell'interfaccia è configurato per collegare il calcolatore del cliente con il complessivo elettronico. Il programma di applicazione è trasferito dall'assistente della rete al calcolatore del cliente via la rete. Il programma di applicazione include un operatore di metodo di prova di esplorazione di contorno per verificare il funzionamento del complessivo elettronico. Un metodo per a distanza verificare un dispositivo periferico che ha un complessivo elettronico inoltre è fornito.

 
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< Semiconductor device allowing control of clock supply to processor on a clock cycle basis

< Cache memory device and memory allocation method

> CACHE CONTROL DEVICE AND MANUFACTURING METHOD THEREOF

> Method for testing a testable electronic device

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