Particle detection method and apparatus

   
   

An apparatus and method for detecting pattern defects and/or particles on the front surface of a semiconductor wafer having repetitive patterns includes a laser for illuminating an area on the front surface with a beam of polarized light. A lens collects light scattered from the area and forms a Fourier diffraction pattern of the area illuminated. A Fourier mask blocks out scattered light collected by the lens at locations in the Fourier diffraction pattern where the intensity is above a predetermined level indicative of background information and leaves in light at locations where the intensity is below the threshold level indicative of possible particle information. The Fourier mask includes a spatial light modulator and a polarization discriminator. The lens also images the area illuminated onto a camera using scattered light collected from the area by the lens and not blocked out by the Fourier mask. In one embodiment of the invention the spatial light modulator is optically addressable and in other embodiments of the invention the spatial light modulator is electrically addressable.

Прибор и метод для обнаруживать дефекты and/or частицы картины на передней поверхности вафли полупроводника имея repetitive картины вклюают лазер для освещать зону на передней поверхности с лучем поляризовыванного света. Объектив собирает разбросанный свет от области и формирует картину огибания fourier загоранной области. Маска fourier преграждает вне разбросанный свет собранный объективом на положениях в картине огибания fourier где интенсивность над предопределенным уровнем признаковым основной информации и выходит в свет на положениях где интенсивность под уровнем порога признаковым по возможности данных по частицы. Маска fourier вклюает spatial светлый модулятор/демодулятор и различитель поляризации. Объектива изображения также, котор область загорелась на камеру используя разбросанный свет собрали от области объективом и преграженной вне маской fourier. В одном воплощении вымысла spatial светлый модулятор/демодулятор оптически addressable и в других воплощениях вымысла spatial светлый модулятор/демодулятор электрически addressable.

 
Web www.patentalert.com

< Method for focus detection for optically detecting deviation of the image plane of a projection lens from the upper surface of a substrate, and an imaging system with a focus-detection system

< Low profile optical imaging system having a wide field of regard

> Three dimensional scanning camera

> Method and system for performing swept-wavelength measurements within an optical system incorporating a reference resonator

~ 00174