Boundary scan cell for testing AC coupled line using phase modulation technique

   
   

An apparatus and a method for testing Alternating Current (AC) coupled interconnects of a circuit using boundary scan methodology are disclosed. A Boundary Scan Cell (BSC) of a transmitting Integrated Circuit (IC) generates an AC signal based on a value of the BSC of the transmitting IC and a reference clock. A Sync Pulse cell at the receiving IC generates a sync pulse signal to the BSC of the receiving IC. The BSC of the receiving IC captures a default phase of the AC signal in relation to the sync pulse signal and also captures a phase of a source of input signal. The BSC of the receiving IC then compares the phase of a source of input signal with the phase of said AC signal in relation to the phase captured at the snyc pulse signal and sends out an output signal based on the comparison.

Un materiale e un metodo per verificare la corrente alternata (CA) coppia collega di un circuito che usando la metodologia di esplorazione di contorno sono rilevati. Una cellula di esplorazione di contorno (BSC) di un circuito integrato trasmettente (IC) genera un segnale di CA basato su un valore del BSC del IC trasmettente e di un orologio di riferimento. Una cellula di impulso di sincronizzazione al IC di ricezione genera un segnale di impulso di sincronizzazione al BSC del IC di ricezione. Il BSC del IC di ricezione blocca una fase di difetto del segnale di CA rispetto al segnale di impulso di sincronizzazione ed inoltre blocca una fase di una fonte del segnale in ingresso. Il BSC del IC di ricezione allora paragona la fase di una fonte del segnale in ingresso alla fase del segnale detto di CA rispetto alla fase bloccata al segnale di impulso dello snyc e spedisce un segnale in uscita basato sul confronto.

 
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