Automated multi-device test process and system

   
   

A method, system and software for automatically generating a test environment for testing a plurality of devices (DUTs) under test in a test system. The multiple devices are tested by mapping the plurality of DUTs into pins of the tester system to create pin data; inputting into a test program generator pattern data, generic test program rules and the pin data; generating a multi-DUT test program and multi-DUT pattern data; and controlling the test system through the test program. The resulting fail data is then logged to each DUT.

Метод, система и средство программирования для автоматически производить окружающую среду испытания для испытывать множественность приспособлений (DUTs) под испытанием в системе испытания. Множественные приспособления испытаны путем составлять карту множественность DUTs в штыри системы тестера для того чтобы создать данные по штыря; inputting в данные по картины генератора программы испытания, родовые правила программы испытания и данные по штыря; производящ multi-DUT испытайте данные по программы и картины multi-DUT; и контролирующ систему испытания через программу испытания. Приводя к данные по терпеть неудачу после этого внесены в журнал к каждому DUT.

 
Web www.patentalert.com

< Carry generation in address calculation

< Processor and method of executing load instructions out-of-order having reduced hazard penalty

> Method and apparatus for text layout across a region

> Method and system for extending delay and slew metrics to ramp inputs

~ 00167