High density, high frequency, board edge probe

   
   

A probe that connects test and measurement equipment to a device under test via a plurality of cables. The probe is formed of a plurality of printed circuit boards that are stacked together. Each board is connected to one of the plurality of cables and has a longitudinal set of pads along an edge electrically connected to the cable. The stacked plurality of printed circuit boards form a two dimensional array of pads for connecting to a similar set of pads on a device under test.

Una punta de prueba que conecta el equipo de la prueba y de la medida con un dispositivo bajo prueba vía una pluralidad de cables. La punta de prueba se forma de una pluralidad de tableros de circuito impresos que se apilen juntos. Cada tablero está conectado con uno de la pluralidad de cables y tiene un sistema longitudinal de cojines a lo largo de un borde conectado eléctricamente con el cable. La pluralidad apilada de tableros de circuito impresos forma un arsenal de dos dimensiones de los cojines para conectar con un sistema similar de cojines en un dispositivo bajo prueba.

 
Web www.patentalert.com

< Determining cable attenuation and loss of signal threshold

< Voltage probe

> Apparatus for testing integrated circuits having an integrated unit for testing digital and analog signals

> Distributed capacitive/resistive electronic device

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