Method of measuring dielectric constant using light in a plurality of wavelength ranges

   
   

In a dielectric constant measuring apparatus provided are a light source for irradiating a substrate with light in a visible or near-ultraviolet wavelength range, a spectroscope for receiving reflected light from the substrate, and a first optical characteristic acquiring unit for acquiring the spectral reflectance of the substrate. Further are provided therein a light source for irradiating the substrate with light in an infrared wavelength range, a spectroscope for receiving transmission light from the substrate, and a second optical characteristic acquiring unit for acquiring the spectral transmittance of the substrate. The dielectric constant of a dielectric film on the substrate is obtained by a first parameter set calculation unit, a second parameter set calculation unit and a dielectric constant calculation unit, using the spectral reflectance and spectral transmittance of the substrate. It is thereby possible to achieve a noncontact measurement of the dielectric constant of the dielectric film on the substrate.

В обеспеченном приборе диэлектрической константы измеряя находятся источник света для облучать субстрат с светом в видимом или близк-ul6trafioletov длинноволновом диапазоне, спектроскоп для получать отраженный свет от субстрата, и первый оптически характерный приобретая блок для приобретать спектральную характеристику субстрата. Более далее обеспечьте в этом источнику света для облучать субстрат с светом в ультракрасном длинноволновом диапазоне, спектроскоп для получать свет передачи от субстрата, и второй оптически характерный приобретая блок для приобретать спектральную пропускаемость субстрата. Диэлектрическая константа диэлектрической пленки на субстрате получена первым блоком вычисления комплекта параметров, вторым блоком вычисления комплекта параметров и блоком вычисления диэлектрической константы, использующ спектральную характеристику и спектральную пропускаемость субстрата. Таким образом по возможности достигнуть внеконтактного измерения диэлектрической константы диэлектрической пленки на субстрате.

 
Web www.patentalert.com

< Plasma display panel and method for driving the same

< Imaging SPR apparatus

> Method and apparatus for reducing the effect of bleed-through on captured images

> System for directed molecular interaction in surface plasmon resonance analysis

~ 00165