An apparatus for three dimensional inspection of an electronic part which
has a camera and illuminator for imaging a first view of the electronic
part. An optical element is positioned to reflect a different view of the
electronic part into the camera, and the camera thus provides an image of
the electronic part having differing views of the electronic part. An
image processor applies calculations on the differing views to calculate a
three dimensional position of at least one portion of the electronic part.
Um instrumento para a inspeção tridimensional de uma parte eletrônica que tenha uma câmera e um iluminador para a imagem latente uma primeira vista da parte eletrônica. Um elemento ótico é posicionado para refletir uma vista diferente da parte eletrônica na câmera, e a câmera fornece assim uma imagem da parte eletrônica que tem vistas diferindo da parte eletrônica. Um processador de imagem aplica cálculos nas vistas diferindo para calcular uma posição tridimensional ao menos de uma parcela da parte eletrônica.
