Air gap interconnect method

   
   

A low-k dielectric sacrificial material is formed within a microelectronic structure covered with a layer defining an exhaust vent. At an appropriate time, the underlying sacrificial material is decomposed and exhausted away through the exhaust vent. Residue from the exhausted sacrificial material accumulates at the vent location during exhaustion until the vent is substantially occluded. As a result, an air gap is created having desirable characteristics as a dielectric.

Un bas-k matériel sacrificatoire diélectrique est formé dans une structure microélectronique couverte de couche définissant un passage d'échappement. À un temps approprié, le matériel sacrificatoire fondamental est décomposé et épuisé loin par le passage d'échappement. Le résidu du matériel sacrificatoire épuisé s'accumule à l'endroit de passage pendant l'épuisement jusqu'à ce que le passage soit sensiblement occlu. En conséquence, un espace d'air est créé en ayant des caractéristiques souhaitables comme diélectrique.

 
Web www.patentalert.com

< Non-penetrating projectile

< Method of making an ultimate low dielectric device

> Semiconductor PMD layer dielectric

> Multi-pass sintering of a sol-gel body through a hot zone

~ 00164