Test interconnect having suspended contacts for bumped semiconductor components

   
   

An interconnect for testing semiconductor components includes a substrate, and contacts on the substrate for making temporary electrical connections with bumped contacts on the components. Each contact includes a recess and a support member over the recess configured to electrically engage a bumped contact. The support member is suspended over the recess on spiral leads formed on a surface of the substrate. The spiral leads allow the support member to move in a z-direction within the recess to accommodate variations in the height and planarity of the bumped contacts. In addition, the spiral leads twist the support member relative to the bumped contact to facilitate penetration of oxide layers thereon. The spiral leads can be formed by attaching a polymer substrate with the leads thereon to the substrate, or by forming a patterned metal layer on the substrate. In an alternate embodiment contact, the support member is suspended over the surface of the substrate on raised spring segment leads.

Μια διασύνδεση για τη δοκιμή των τμημάτων ημιαγωγών περιλαμβάνει ένα υπόστρωμα, και τις επαφές στο υπόστρωμα για την παραγωγή των προσωρινών ηλεκτρικών συνδέσεων με τις χτυπημένες επαφές στα συστατικά. Κάθε επαφή περιλαμβάνει μια κοιλότητα και ένα μέλος υποστήριξης πέρα από την κοιλότητα που διαμορφώνεται για να δεσμεύσει ηλεκτρικά μια χτυπημένη επαφή. Το μέλος υποστήριξης αναστέλλεται πέρα από την κοιλότητα στους σπειροειδείς μολύβδους που διαμορφώνονται σε μια επιφάνεια του υποστρώματος. Οι σπειροειδείς μόλυβδοι επιτρέπουν στο μέλος υποστήριξης για να κινηθούν σε μια ζ-κατεύθυνση μέσα στην κοιλότητα για να προσαρμόσουν τις παραλλαγές στο ύψος και το planarity των χτυπημένων επαφών. Επιπλέον, οι σπειροειδείς μόλυβδοι στρίβουν το μέλος υποστήριξης σχετικά με τη χτυπημένη επαφή για να διευκολύνουν τη διείσδυση των στρωμάτων οξειδίων επ'αυτού. Οι σπειροειδείς μόλυβδοι μπορούν να διαμορφωθούν με να συνδέσουν ένα πολυμερές υπόστρωμα με τους μολύβδους επ'αυτού με το υπόστρωμα, ή με τη διαμόρφωση ενός διαμορφωμένου στρώματος μετάλλων στο υπόστρωμα. Σε εναλλάσσομαι επαφή ενσωμάτωσης, το μέλος υποστήριξης αναστέλλεται πέρα από την επιφάνεια του υποστρώματος στους αυξημένους μολύβδους τμήματος άνοιξη.

 
Web www.patentalert.com

< Method and system for analyzing overhead line geometries

< Timing vernier using a delay locked loop

> Bandgap reference circuit

> Recording apparatus, motor control apparatus, and motor control method

~ 00161