A technique to verify, evaluate, and estimate the performance of an
integrated circuit is embodied in a computer software program that is
executable by a computer system. The technique accurately estimates of the
performance (e.g., transient delays) of an integrated circuit, and has
fast execution times. The technique includes an incremental
recharacterization feature where only portions of the design which have
been changed or are new or different will need to be recharacterized
during subsequent runs of the software. Portions of the design which are
the same need not be recharacterized, and results for those portions from
a previous run (stored in a database) are used. This saves execution time
since the performance recharacterization or evaluation process is
generally more time consuming than a database look up. The technique is
applicable to small circuits having relatively few transistors, and
especially well suited for integrated circuits having millions of
transistors and components. The technique handles the effects of
deep-submicron integrated circuit technology.
Uma técnica para verificar, avaliar, e estimar o desempenho de um circuito integrado embodied em um programa do software de computador que seja executável por um sistema computatorizado. Da técnica as estimativas exatamente do desempenho (por exemplo, o transeunte atrasa) de um circuito integrado, e têm tempos de execução rápidos. A técnica inclui uma característica incremental do recharacterization onde somente as parcelas do projeto que foram mudadas ou são necessidade nova ou diferente da vontade ser recharacterized durante funcionamentos subseqüentes do software. As parcelas do projeto que são a mesma necessidade para ser recharacterized, e resultados para aquelas parcelas de um funcionamento precedente (armazenado em uma base de dados) são usadas. Isto conserva o tempo de execução desde que o processo do recharacterization ou da avaliação do desempenho é geralmente mais tempo que consome do que uma base de dados olha acima. A técnica é aplicável aos circuitos pequenos que têm relativamente poucos transistor, e especial ao poço servido para os circuitos integrados que têm milhões dos transistor e dos componentes. A técnica segura os efeitos da tecnologia profundo-submicrónica do circuito integrado.
