Method of etching a deep trench having a tapered profile in silicon

   
   

Disclosed herein is a method of etching deep trenches in a substrate which utilizes the overlying mask structure to achieve a trench having a positive tapered sidewall angle of less than about 88.degree.. The method employs the successive etching of a lateral undercut in the substrate beneath a masking material, while at the same time etching vertically downward beneath the mask. The coordinated widening of the lateral undercut at the top of the trench, while vertically extending the depth of the trench, is designed to provide the desired trench sidewall taper angle.

É divulgado nisto um método de gravar trincheiras profundas em uma carcaça que utilize a estrutura sobrejacente da máscara para conseguir uma trincheira que tem um ângulo afilado positivo do sidewall de menos do que sobre 88.degree.. O método emprega gravura a água-forte sucessiva de um undercut lateral na carcaça abaixo de um material mascarando, ao ao mesmo tempo gravar verticalmente para baixo abaixo da máscara. Alargar-se coordenado do undercut lateral no alto da trincheira, ao verticalmente estender a profundidade da trincheira, é projetado fornecer o ângulo desejado do atarraxamento do sidewall da trincheira.

 
Web www.patentalert.com

< SYSTEM AND METHOD FOR EFFECTING HIGH-POWER BEAM CONTROL WITH OUTGOING WAVEFRONT CORRECTION UTILIZING HOLOGRAPHIC SAMPLING AT PRIMARY MIRROR, PHASE CONJUGATION, AND ADAPTIVE OPTICS IN LOW POWER BEAM PATH

< Replication and transfer of microstructures and nanostructures

> Method of making high-voltage bipolar/CMOS/DMOS (BCD) devices

> Thin film resonator and method for manufacturing the same

~ 00158