An atomic force microscope (AFM) tip is used to selectively produce surface
enhanced Raman scattering (SERS) for localized Raman spectroscopy. Spectra
of thin films, undetectable with a Raman microprobe spectrometer alone,
are readily acquired in contact with a suitably gold-coated AFM tip.
Similarly, an AFM tip is used to remove sample layers at the nanometer
scale and subsequently serve as a SERS substrate for ultra-trace analysis.
This demonstrates the interface of an AFM with a Raman spectrometer that
provides increases sensitivity, selectivity and spatial resolution over a
conventional Raman microprobe. An AFM guiding the SERS effect has the
potential for targeted single molecule spectroscopy.
Uma ponta atômica do microscópio da força (AFM) é usada produzir seletivamente Raman realçado superfície que dispersa (SERS) para o spectroscopy localizado de Raman. Os spectra de películas finas, undetectable com um spectrometer do microprobe de Raman sozinho, são adquiridos prontamente no contato com uma ponta apropriadamente ouro-revestida do AFM. Similarmente, uma ponta do AFM é usada remover as camadas da amostra na escala do nanômetro e para servir subseqüentemente como uma carcaça de SERS para ultra-siga a análise. Isto demonstra a relação de um AFM com um spectrometer de Raman que forneça a sensibilidade dos aumentos, o selectivity e a definição spatial sobre um microprobe convencional de Raman. Um AFM que guia o efeito de SERS tem o potencial para o único spectroscopy alvejado da molécula.
