Semiconductor device

   
   

A thin film passive element includes at least one of a capacitance element having a plurality of conductive layers and a dielectric material layer and an inductance element formed of a patterned conductive layer is stacked on a circuit element-forming region of a semiconductor substrate provided with a plurality of connection pads and is connected to the circuit element of the circuit element-forming region.

Een dunne film passief element omvat minstens één van een capacitieve weerstandselement dat een meerderheid van geleidende lagen heeft en een diëlektrische materiële laag en een inductantieelement dat van een gevormde geleidende laag wordt gevormd worden gestapeld op een kring element-zichvormend gebied van een halfgeleidersubstraat dat van een meerderheid van verbindingsstootkussens wordt voorzien en met het kringselement van het kring element-zichvormend gebied verbonden.

 
Web www.patentalert.com

< Semiconductor device

< Interconnect test structure with slotted feeder lines to prevent stress-induced voids

> Method for testing multiple semiconductor wafers

> A-C:H ISFET device, manufacturing method, and testing methods and apparatus thereof

~ 00157