Automatic test pattern generation for functional register transfer level circuits using assignment decision diagrams

   
   

Test patterns are generated by generating assignment decision diagrams that represent a register transfer level digital circuit. A nine-valued symbolic algebra is used in which objectives are determined for portions identified in the assignment decision diagram. The objectives are justified and propagated by traversing the assignment decision diagram in which a test environment is found. Heuristics are used if a test environment is not initially found. Using the test environment found, predetermined test vectors are propagated to obtain a system-level test set. Each test set for each portion are concatenated to obtain a complete test set for the register transfer level digital circuit.

Os testes padrões de teste são gerados gerando os diagramas da decisão da atribuição que representam um circuito digital do nível de transferência do registo. Uma álgebra simbólica nove-avaliada é usada em que os objetivos são determinados para as parcelas identificadas no diagrama da decisão da atribuição. Os objetivos são justificados e propagados atravessando o diagrama da decisão da atribuição em que um ambiente do teste é encontrado. O heuristics é usado se um ambiente do teste não for encontrado inicialmente. Usando o ambiente do teste encontrou, vetores predeterminados do teste são propagados para obter um jogo system-level do teste. Cada jogo do teste para cada parcela é concatenado para obter um jogo completo do teste para o circuito digital do nível de transferência do registo.

 
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