Method and device for measuring wear on internal barrel surfaces

   
   

A method and a device for measuring wear on the internal surfaces (12) of barrels (1), in particular weapon barrels. For a very precise determination of the wear on the internal surfaces (12) of barrels (1), a non-contacting scanning of the internal surface (12) of the respective barrel (1) to be checked is carried out with a light-spot triangulation sensor (6), to determine the respective distance between the internal surface (12) and the barrel axis (7) for selected sensor positions. The contour of the internal surface (12) of the respective barrel (1) is then determined from the detected distance changes. It has proven advantageous if the measured distance values are displayed on a monitor (23) in the form of a C-image, wherein different distance ranges are characterized with different colors, so that faulty surface areas can immediately be recognized optically.

Μια μέθοδος και μια συσκευή για την ένδυση στις εσωτερικές επιφάνειες (12) των βαρελιών (1), ειδικότερα βαρέλια όπλων. Για έναν πολύ ακριβή προσδιορισμό της ένδυσης στις εσωτερικές επιφάνειες (12) των βαρελιών (1), μια non-contacting ανίχνευση της εσωτερικής επιφάνειας (12) του αντίστοιχου βαρελιού (1) για να ελεγχθεί πραγματοποιείται με έναν triangulation ελαφρύς-σημείων αισθητήρα (6), για να καθορίσει την αντίστοιχη απόσταση μεταξύ της εσωτερικής επιφάνειας (12) και του άξονα βαρελιών (7) για τις επιλεγμένες θέσεις αισθητήρων. Το περίγραμμα της εσωτερικής επιφάνειας (12) του αντίστοιχου βαρελιού (1) καθορίζεται έπειτα από τις ανιχνευμένες αλλαγές απόστασης. Έχει αποδειχθεί συμφέρον εάν οι μετρημένες τιμές απόστασης επιδεικνύονται σε ένα όργανο ελέγχου (23) υπό μορφή γ-εικόνας, όπου οι διαφορετικές σειρές απόστασης χαρακτηρίζονται με τα διαφορετικά χρώματα, έτσι ώστε οι ελαττωματικές περιοχές επιφάνειας μπορούν αμέσως να αναγνωριστούν οπτικά.

 
Web www.patentalert.com

< Optical module and optical transceiver

< Method and apparatus for UV measurement

> Optical testing port and wafer level testing without probe cards

> Device for controlling a display

~ 00143