Systems for performing time domain measurements of a device under test
(DUT) are provided. One such system includes a normalization system that
receives information corresponding to a model of a test system used for
providing differential input signals to a DUT, receives information
corresponding to first and second differential input signals provided to
the DUT, receives information corresponding to first and second reflected
waveforms corresponding to the DUT response to the first and second
differential input signals, and computes first and second normalized
waveforms using at least a first inverse transfer function of the test
system, the first and second normalized waveforms including fewer test
system error components than the first and second reflected waveforms,
respectively. Methods, computer-readable media and other systems also are
provided.
De systemen om de metingen van het tijddomein van een apparaat in onderzoek (DUT) uit te voeren worden verstrekt. Één dergelijk systeem omvat een normalisatiesysteem dat informatie ontvangt die aan een model van een testsysteem beantwoordt dat voor het verstrekken van differentiële inputsignalen wordt gebruikt aan een DUT, informatie beantwoorden aan eerst en tweede differentiële inputsignalen ontvangt die die aan DUT worden verstrekt, informatie beantwoorden aan eerst en tweede weerspiegelde golfvormen ontvangt die aan de reactie DUT op de eerste en tweede differentiële inputsignalen beantwoorden, en verwerkt eerst gegevens en tweede genormaliseerde golfvormen gebruikend minstens een eerste omgekeerde overdrachtfunctie van het testsysteem, de eerste en tweede genormaliseerde golfvormen met inbegrip van minder de foutencomponenten van het testsysteem dan de eerste en tweede weerspiegelde golfvormen, respectievelijk. De methodes, de door de computer leesbare media en andere systemen worden ook verstrekt.
