A semiconductor integrated circuit device includes a plurality of internal
circuits, internal potential generating circuits for converting a level of
an external power supply potential to supply an internal potential at a
level corresponding to a level set signal, a control portion for
successively applying the plurality of level set signals to each of the
internal potential generating circuits, and a measuring circuit for
comparing each internal potential with a reference potential, and holding
information representing results of the comparison. During a test period,
a comparing circuit in the internal potential generating circuit compares
a level corresponding to the level set signal with a comparison reference
potential.
Приспособление интегрированной цепи полупроводника вклюает множественность внутрених схем, внутренне потенциала производя цепи для преобразовывать уровень потенциала поставкы внешней силы поставить внутренне потенциал на уровне соответствуя к сигналу уровня установленному, части управления для последовательно прикладывать множественность сигналов уровня установленных к каждому из внутренне потенциала производя цепи, и измеряя цепи для сравнивать каждый внутренне потенциал с потенциалом справки, и держать информацию представляя результаты сравнения. Во время периода испытания, сравнивая цепь в внутренне потенциальной производя цепи сравнивает уровень соответствуя к сигналу уровня установленному с потенциалом справки сравнения.
