Jitter measuring device and method

   
   

A signal under measurement is transformed into a complex analytic signal using a Hilbert transformer and an instantaneous phase of this analytic signal is estimated. A linear phase is subtracted from the instantaneous phase to obtain a phase noise waveform. The phase noise waveform is sampled in the proximity of a zero crossing point of a real part of the analytic signal. A differential waveform of the sample phase noise waveform is calculated to obtain a differential phase noise waveform. An RMS jitter is obtained from the phase noise waveform, and a peak-to-peak jitter is obtained from the phase noise waveform.

Сигнал под измерением преобразован в сложный аналитически сигнал использующ трансформатор Hilbert и оценен мгновенный участок этого аналитически сигнала. Линейный участок вичесн от мгновенного участка для того чтобы получить форму волны шума участка. Форма волны шума участка попробована в близости пункта zero crossing реальной части аналитически сигнала. Высчитаны, что получает дифференциальная форма волны формы волны шума участка образца дифференциальную форму волны шума участка. Дрожание rms получено от формы волны шума участка, и размах дрожание получено от формы волны шума участка.

 
Web www.patentalert.com

< Expert system for analysis of DNA sequencing electropherograms

< Maize metallothionein gene and promoter

> Noctilucent polyurethane chips and methods of manufacturing the same

> Enhanced sample processing devices, systems and methods

~ 00133