Surface photo-acoustic film measurement device and technique

   
   

A method for determining the thickness and other properties of a metal layer comprising producing an acoustic wave at a first frequency in the metal layer with a first laser beam, measuring the angle of diffraction of a second laser beam from the acoustic wave, and calculating the wavelength of the acoustic wave and thickness of the metal layer from the angle of diffraction.

Un método para determinar el grueso y otras características de un metal acodan abarcar produciendo una onda acústica en una primera frecuencia en la capa del metal con un primer rayo laser, midiendo el ángulo de la difracción de un segundo rayo laser de la onda acústica, y calculando la longitud de onda de la onda acústica y del grueso de la capa del metal del ángulo de la difracción.

 
Web www.patentalert.com

< Inertial vibration transducers

< Method for removing H2S and CO2 from above ground hydrocarbon streams

> Electric double layer capacitor and process for its production

> Variable potential electrokinetic device

~ 00131