When specimens are illuminated in a scanning microscope, it is often
necessary to use radiations of different wavelengths in order to examine
the sample. A device and a method for illumination of specimens in a
scanning microscope is proposed, a laser being used to generate a laser
beam, and an optical system being used to image the laser beam onto the
specimen. The optical system comprises a switchable beam deflection device
that can direct the laser beam onto the specimen either along a first beam
path or along an alternative beam path. In addition, a device for
frequency conversion is arranged in the beam path of the alternative beam
path.
Quando os espécimes são iluminados em um microscópio da exploração, é frequentemente necessário usar radiações de wavelengths diferentes a fim examinar a amostra. Um dispositivo e um método para a iluminação dos espécimes em um microscópio da exploração são propostos, um laser que estão sendo usados gerar um feixe de laser, e um sistema ótico que está sendo usado à imagem o feixe de laser no espécime. O sistema ótico compreende um dispositivo switchable da deflexão de feixe que possa dirigir o feixe de laser no espécime ao longo de um primeiro trajeto de feixe ou ao longo de um trajeto de feixe alternativo. Além, um dispositivo para a conversão de freqüência é arranjado no trajeto de feixe do trajeto de feixe alternativo.
