One or more electrical characteristics of an integrated circuit device are
measured at one or more relatively lower frequencies. One or more
parameters of the integrated circuit device are measured at one or more
frequencies higher than the one or more relatively lower frequencies. One
or more parameters of the integrated circuit device are calculated based
on the measured one or more electrical characteristics. The integrated
circuit device is characterized based on the calculated one or more
parameters and the measured one or more parameters.
Une ou plusieurs caractéristiques électriques d'un dispositif de circuit intégré sont mesurées à une ou plusieurs fréquences relativement plus basses. Un ou plusieurs paramètres du dispositif de circuit intégré sont mesurés une ou plusieurs fréquences à plus haut que les une ou plusieurs fréquences relativement plus basses. Un ou plusieurs paramètres du dispositif de circuit intégré sont calculés ont basé sur mesuré une ou plusieurs caractéristiques électriques. Le dispositif de circuit intégré est caractérisé a basé sur calculé un ou plusieurs paramètres et mesuré un ou plusieurs paramètres.
