Method and apparatus for measuring wavelength jitter of light signal

   
   

An apparatus for detecting wavelength change of a first light signal comprises an amplitude splitting interferometer and a detector. The amplitude splitting interferometer comprises first and second optical paths. The first optical path has a first index of refraction that varies with wavelength over a first wavelength band. The second optical path has a second index of refraction that is relatively constant over the first wavelength band. In operation the first light signal enters and exits the amplitude splitting interferometer forming interference light. The interference light couples to the detector which detects the wavelength change of the first light signal from the interference light. An interferometer comprises a first beam splitter, third and fourth optical paths, and a second beam splitter. The third optical path is optically coupled to the first beam splitter and has a third index of refraction that varies with wavelength over a second wavelength band. The fourth optical path is optically coupled to the first beam splitter and has a fourth index of refraction that is relatively constant over the second wavelength band. The second beam splitter is optically coupled to the first and second optical paths such that in operation an incident light enters the first beam splitter and exits the second beam splitter forming an output light and further such that in operation a change in wavelength of the incident light within the wavelength band causes a change in interference of the output light.

Μια συσκευή για την αλλαγή μήκους κύματος ενός πρώτου φωτεινού σήματος περιλαμβάνει ένα χωρίζοντας παρεμβαλλόμετρο εύρους και έναν ανιχνευτή. Το χωρίζοντας παρεμβαλλόμετρο εύρους περιλαμβάνει πρώτα και δεύτερες οπτικές πορείες. Η πρώτη οπτική πορεία έχει έναν πρώτο δείκτη της διάθλασης που ποικίλλει με το μήκος κύματος πέρα από μια πρώτη ζώνη μήκους κύματος. Η δεύτερη οπτική πορεία έχει έναν δεύτερο δείκτη της διάθλασης που είναι σχετικά σταθερός πέρα από την πρώτη ζώνη μήκους κύματος. Σε λειτουργία το πρώτο φωτεινό σήμα εισάγει και βγαίνει το χωρίζοντας παρεμβαλλόμετρο εύρους διαμορφώνοντας το φως παρέμβασης. Το φως παρέμβασης συνδέει με τον ανιχνευτή που ανιχνεύει την αλλαγή μήκους κύματος του πρώτου φωτεινού σήματος από το φως παρέμβασης. Ένα παρεμβαλλόμετρο περιλαμβάνει έναν πρώτο θραύστη ακτίνων, ένα τρίτο και τέταρτες οπτικές πορείες, και έναν δεύτερο θραύστη ακτίνων. Η τρίτη οπτική πορεία συνδέεται οπτικά με τον πρώτο θραύστη ακτίνων και έχει έναν τρίτο δείκτη της διάθλασης που ποικίλλει με το μήκος κύματος πέρα από μια δεύτερη ζώνη μήκους κύματος. Η τέταρτη οπτική πορεία συνδέεται οπτικά με τον πρώτο θραύστη ακτίνων και έχει έναν τέταρτο δείκτη της διάθλασης που είναι σχετικά σταθερός πέρα από τη δεύτερη ζώνη μήκους κύματος. Ο δεύτερος θραύστης ακτίνων συνδέεται οπτικά με τις πρώτες και δεύτερες οπτικές πορείες έτσι ώστε σε λειτουργία ένα συναφές φως εισάγει τον πρώτο θραύστη ακτίνων και βγαίνει το δεύτερο θραύστη ακτίνων διαμορφώνοντας ένα φως παραγωγής και προάγει έτσι ώστε σε λειτουργία μια αλλαγή στο μήκος κύματος του συναφούς φωτός μέσα στη ζώνη μήκους κύματος προκαλεί μια αλλαγή στην παρέμβαση του φωτός παραγωγής.

 
Web www.patentalert.com

< Multiwavelength light source device employing annular optical delay circuit

< Piezoelectric tunable filter

> One-chip micro-integrated optoelectronic sensor

> ATR crystal device

~ 00128