Semiconductor memory device with enhanced reliability

   
   

The semiconductor memory device has a formal mode and a test mode as operating modes. The program circuit includes a fuse element in which an address using a spare memory cell instead of a defective memory cell is programmed. The program circuit confirms a disconnection state of a fuse in a condition severer in the test mode than that in the normal mode. An anomaly is notified to outside by a detection circuit in a case where results are different between the test mode and the normal mode. In a case where a fuse is not completely blown, such a fuse can also be detected in the test mode to exclude a defective chip.

Η συσκευή μνήμης ημιαγωγών έχει έναν επίσημο τρόπο και έναν τρόπο δοκιμής ως λειτουργούντες τρόπους. Το κύκλωμα προγράμματος περιλαμβάνει ένα στοιχείο θρυαλλίδων στο οποίο μια διεύθυνση που χρησιμοποιεί ένα εφεδρικό κύτταρο μνήμης αντί ενός ελαττωματικού κυττάρου μνήμης είναι προγραμματισμένη. Το κύκλωμα προγράμματος επιβεβαιώνει μια κατάσταση αποσύνδεσης μιας θρυαλλίδας σε έναν όρο αυστηρότερο στον τρόπο δοκιμής από αυτός στον κανονικό τρόπο. Μια ανωμαλία δηλώνεται στο εξωτερικό από ένα κύκλωμα ανίχνευσης σε μια περίπτωση όπου τα αποτελέσματα είναι διαφορετικά μεταξύ του τρόπου δοκιμής και του κανονικού τρόπου. Σε μια περίπτωση όπου μια θρυαλλίδα δεν φυσιέται εντελώς, μια τέτοια θρυαλλίδα μπορεί επίσης να ανιχνευθεί στον τρόπο δοκιμής για να αποκλείσει ένα ελαττωματικό τσιπ.

 
Web www.patentalert.com

< Apparatus and method for a microsphere whispering-gallery mode evanescent-wave sensor

< Method of amplifying optical signals using doped materials with extremely broad bandwidths

> Limiter optics

> Resonant reflector for use with optoelectronic devices

~ 00127