A test circuit for testing an integrated circuit, includes a test signal
input for receiving a test signal from the integrated circuit and a
reference signal input for receiving a reference signal. A comparator is
in communication with the test signal input and with the reference signal
input. The comparator is configured to provide, at a comparator output, an
error signal if a comparison between the reference signal and the test
signal indicates an error. The error signal, if present, is stored in an
error memory, in communication with the comparator output.
Un circuito de la prueba para probar un circuito integrado, incluye una entrada de señal de la prueba para recibir una señal de la prueba del circuito integrado y una entrada de señal de la referencia para recibir una señal de la referencia. Un comparador está en la comunicación con la entrada de señal de la prueba y con la entrada de señal de la referencia. El comparador se configura para proporcionar, en una salida del comparador, una señal del error si una comparación entre la señal de la referencia y la señal de la prueba indica un error. La señal del error, si presente, se almacena en una memoria del error, en la comunicación con la salida del comparador.
