Apparatus and method to measure film motion in a film gate

   
   

Apparatus for measuring deflection of a film in a film gate having an aperture illuminated by a primary light source having an output spectrum, includes: a) a reflective photonic probe mounted in the film gate, the reflective probe having at least one optical fiber; b) a measurement light source coupled to reflective photonic probe and emitting a wavelength of light outside of the primary light source's spectrum; c) a photodetector coupled to the reflective photonic probe; d) a narrow pass optical filter located between the photodetector and the reflective photonic probe, the narrow pass filter passing the light from the measurement light source and blocking the light from the primary light source; and e) signal processing electronics connected to the photodetector for producing a signal representing the motion of the film perpendicular to the plane of the film.

Η συσκευή για την εκτροπή μιας ταινίας σε μια πύλη ταινιών που έχει ένα άνοιγμα φωτισμένο από μια αρχική πηγή φωτός που έχει ένα φάσμα παραγωγής, περιλαμβάνει: α) ένας αντανακλαστικός φωτονιακός έλεγχος που τοποθετείται στην πύλη ταινιών, ο αντανακλαστικός έλεγχος που έχει τουλάχιστον μια οπτική ίνα β) μια πηγή φωτός μέτρησης που συνδέεται με τον αντανακλαστικό φωτονιακό έλεγχο και εκπομπή ενός μήκους κύματος του φωτός έξω από το φάσμα της αρχικής πηγής φωτός γ) ένας φωτοανιχνευτής που συνδέεται με τον αντανακλαστικό φωτονιακό έλεγχο Δ) ένα στενό οπτικό φίλτρο περασμάτων που βρίσκεται μεταξύ του φωτοανιχνευτή και του αντανακλαστικού φωτονιακού ελέγχου, το στενό φίλτρο περασμάτων που περνούν το φως από την πηγή φωτός μέτρησης και που εμποδίζουν το φως από την αρχική πηγή φωτός και ε) ηλεκτρονική επεξεργασίας σήματος που συνδέεται με το φωτοανιχνευτή για την παραγωγή ενός σήματος που αντιπροσωπεύει την κίνηση της καθέτου ταινιών στο αεροπλάνο της ταινίας.

 
Web www.patentalert.com

< Measuring method and apparatus using attenuation in total internal reflection

< Polarimetric scatterometer for critical dimension measurements of periodic structures

> Method of taking polarized images of the skin and the use thereof

> Low coherent reflectometer

~ 00126