The present invention relates to a branch line monitoring system and branch
line monitoring method comprising a configuration which improves the S/N
ratio of measurement information and can be realized inexpensively. This
system is provided with optical filters which correspond to optical fiber
lines to be monitored as branch lines. These optical filters each have
such a cutoff characteristic as to cut of f respective one channel of
monitor light but transmit therethrough the remaining monitor light and
signal light. When the optical filters having such a cutoff characteristic
are provided, each of the optical fiber lines is monitored by use of a
plurality of channels of monitor light other than the one cut off by the
optical filter provided so as to correspond thereto. Consequently, as
compared with the case where one optical fiber line is monitored by its
corresponding one channel of monitor light, the S/N ratio of measurement
information is improved, whereby highly accurate monitoring is possible.
Die anwesende Erfindung bezieht auf einer Zweiglinie Überwachungsanlage und die Zweiglinie, welche die Methode überwacht, die eine Konfiguration enthält, die das S/N Verhältnis der Maßinformationen verbessert und billig verwirklicht werden kann. Dieses System wird mit optischen Filtern versehen, die den als Zweiglinien entsprechen überwacht zu werden Linien der optischen Faser. Diese optischen Filter jeder haben, solch eine Abkürzung, die hinsichtlich des Schnittes f der jeweiligen Führung des Monitorlichtes aber charakteristisch ist, übertragen dadurch das restliche Monitorlicht und Signallicht. Wenn die optischen Filter, die solch eine Abkürzungeigenschaft haben, zur Verfügung gestellt werden, wird jede der Linien der optischen Faser mittels eine Mehrzahl der Führungen des Monitorlichtes anders als das abgeschnitten durch den optischen Filter überwacht, der bereitgestellt wird, um dazu zu entsprechen. Infolgedessen verglichen mit dem Fall, in dem eine Linie der optischen Faser durch seine entsprechende eine Führung des Monitorlichtes überwacht wird, wird das S/N Verhältnis der Maßinformationen verbessert, hingegen die in hohem Grade genaue Überwachung möglich ist.
