An integrated circuit device includes a data buffer, coupled to an external
connector, providing a data signal on the external connector. A test
buffer, coupled to the data buffer, receives the data signal and provides
a testing output signal to a delay circuit. The delay circuit receives the
testing output signal at a first clock rate internal to the integrated
circuit device and compares test data in the testing output signal to
expected test signal values. The delay circuit provides a result to an
external connector at a second clock rate that is slower than the first
clock rate.
Um dispositivo do circuito integrado inclui um amortecedor dos dados, acoplado a um conector externo, fornecendo uns dados sinaliza no conector externo. Um amortecedor do teste, acoplado ao amortecedor dos dados, recebe o sinal dos dados e fornece um sinal de saída testando ao atrasa o circuito. Atrasa o circuito recebe o sinal de saída testando em uma primeira taxa de pulso de disparo interna ao dispositivo do circuito integrado e compara dados de teste no sinal de saída testando aos valores previstos do sinal do teste. Atrasa o circuito fornece um resultado a um conector externo em uma segunda taxa de pulso de disparo que seja mais lenta do que a primeira taxa de pulso de disparo.
