A semiconductor device is provided having an internal circuit to be tested,
a redundancy circuit used when detecting a defective part in the internal
circuit, and a switching unit connected to the internal circuit and the
redundancy circuit. The switching unit switches wiring in order to ensure
proper operation of the semiconductor. A test unit is connected to the
internal circuit for testing for the internal circuit. An operation
environment change unit is connected to the internal circuit, wherein for
changing an environment of the internal circuit when during testing.
According to the present invention, testing of semiconductor devices can
be performed under an actual environment so that a defective part can be
detected under the actual operation environment. Moreover, it is possible
to widen the range of guaranteed operation of semiconductor devices when a
plurality of tests are performed under a plurality of operation
environments.
Un dispositivo a semiconduttore è fornito avendo un circuito interno da esaminare, un circuito di sovrabbondanza utilizzato quando rileva un pezzo difettoso nel circuito interno e un'unità di commutazione collegata al circuito interno ed al circuito di sovrabbondanza. L'unità di commutazione commuta i collegamenti per accertarsi del funzionamento adeguato del semiconduttore. Una unità di prova è collegata al circuito interno per la prova a circuito interno. Un'unità del cambiamento dell'ambiente di funzionamento è collegata al circuito interno, in cui per cambiare un ambiente del circuito interno quando durante la prova. Secondo l'invenzione presente, la prova dei dispositivi a semiconduttore può essere realizzata sotto un ambiente reale in moda da potere rilevare un pezzo difettoso sotto l'ambiente reale di funzionamento. Inoltre, è possibile allargare la gamma di funzionamento garantito dei dispositivi a semiconduttore quando una pluralità di prove è effettuata sotto una pluralità di ambienti di funzionamento.
