System for simultaneously measuring thin film layer thickness, reflectivity, roughness, surface profile and magnetic pattern

   
   

A system and method for performing a magnetic imaging, optical profiling, and measuring lubricant thickness and degradation, carbon wear, carbon thickness, and surface roughness of thin film magnetic disks at angles that are not substantially Brewster's angle of the thin film protective overcoat.

Ένα σύστημα και μια μέθοδος για μια μαγνητική απεικόνιση, μια οπτική σκιαγράφηση, και τη μέτρηση του πάχους και της υποβάθμισης λιπαντικών, της ένδυσης άνθρακα, του πάχους άνθρακα, και της τραχύτητας επιφάνειας των μαγνητικών δίσκων λεπτών ταινιών στις γωνίες που δεν είναι ουσιαστικά γωνία Brewster του προστατευτικού παλτού λεπτών ταινιών.

 
Web www.patentalert.com

< Apparatus and method for measuring each thickness of a multilayer stacked on a substrate

< Apparatus for measuring the volume of individual red blood cells

> Method for real-time control of the fabrication of a thin-film structure by ellipsometric measurement

> Methods and apparatus for analyzing operational and analyte data acquired from optical disc

~ 00107