A method and system for designing a probe card from data provided by
prospective customers via the Internet is provided. Design specifications
are entered into the system by prospective customers and compiled into a
database. The collective feasibility of each set of design specifications
is determined by an automated computer system and communicated to the
prospective customer. If feasible, additional software enables prospective
customers to create verification packages according to their respective
design specifications. These verification packages further consist of
drawing files visually describing the final design and verification files
confirming wafer bonding pad data. Verification packages are reviewed and
forwarded to an applications engineer after customer approval. An
interactive simulation of probe card performance is also provided. Data on
probe card performance is incorporated into an overall modeling exercise,
which includes not only the probe card, but data on the device(s) under
test and wafer, as well as data on automated test equipment.
Eine Methode und ein System für das Entwerfen einer Prüfspitze Karte von den Daten, die von den zukünftigen Kunden über das Internet zur Verfügung gestellt werden, wird zur Verfügung gestellt. Designspezifikationen werden in das System von den zukünftigen Kunden eingetragen und kompiliert in eine Datenbank. Die Kollektivmöglichkeit jedes Satzes Designspezifikationen wird durch ein automatisiertes Computersystem festgestellt und mitgeteilt zum zukünftigen Kunden. Wenn durchführbar, ermöglicht zusätzliche Software zukünftigen Kunden, Überprüfung Pakete entsprechend ihren jeweiligen Designspezifikationen zu verursachen. Diese Überprüfung Pakete, die weiter sind, bestehen aus den zeichnenden Akten, welche sichtlich die abschließenden Design- und Überprüfungsakten beschreiben, die Oblateabbindenauflagedaten bestätigen. Überprüfung Pakete werden einem Anwendungen Ingenieur nach Kundenfreigabe wiederholt und nachgeschickt. Eine wechselwirkende Simulation der Prüfspitze Karte Leistung wird auch zur Verfügung gestellt. Daten bezüglich der Prüfspitze Karte Leistung werden in eine gesamte modellierende Übung, die nicht nur die Prüfspitze Karte miteinschließt, aber in Daten bezüglich des device(s) unter Test und Oblate, sowie Daten bezüglich des automatisierten Testgeräts enthalten.