Method for calculation of cell delay time

   
   

In a circuit simulation step, a cell transistor level net list is input, the slew of an input signal waveform and the magnitude of a load capacitance connected to a cell output terminal are varied for each cell, to perform a circuit simulation of each cell for obtaining an output signal waveform. Next, in a dependence table generation step, the dependence of the output signal waveform slew upon the input slew rate and the load capacitance is calculated for each cell, the dependence thus calculated is compared with a predetermined threshold level, and according to the dependence level, a delay calculation expression with consideration taken to the delay of signal propagation between the cell input and output terminals and another without such consideration are selectively used. Accordingly, the delay times of the cells forming a semiconductor integrated circuit can be calculated at high accuracy and at high processing speed.

In een stap van de kringssimulatie, wordt een het niveau netto lijst van de celtransistor ingevoerd, zwenk van een golfvorm van het inputsignaal en de omvang van een ladingscapacitieve weerstand die met een terminal van de celoutput is wordt verbonden gevarieerd voor elke cel, om een kringssimulatie van elke cel uit te voeren voor het verkrijgen van een golfvorm van het outputsignaal. Daarna, in een de generatiestap van de afhankelijkheidslijst, zwenkt de afhankelijkheid van de golfvorm van het outputsignaal op de input zwenkt tarief en de ladingscapacitieve weerstand wordt berekend voor elke cel, wordt de zo berekende afhankelijkheid vergeleken met een vooraf bepaald drempelniveau, en volgens het afhankelijkheidsniveau, worden een uitdrukking van de vertragingsberekening met overweging die aan de vertraging van signaalpropagatie tussen de van de celinput en output terminals wordt genomen en een andere zonder dergelijke overweging selectief gebruikt. Dienovereenkomstig, kunnen de vertragingstijden van de cellen die een halfgeleidergeïntegreerde schakeling vormen bij hoge nauwkeurigheid en bij hoge verwerkingssnelheid worden berekend.

 
Web www.patentalert.com

< Auxiliary active region determination for line width generation in regionalized rasterizer displays

< Method for selecting a transgenic mouse model of alzheimer's disease

> Analyzing an extended finite state machine system model

> Antisense modulation of polo-like kinase expression

~ 00107