The invention discloses a scanning microscope (1) having a laser (2), which
emits a light beam of a first wavelength (5, 43, 53) and is directed onto
an optical element (9) that modifies the wavelength of the light beam at
least to some extent. Means (16) for suppressing the light of the first
wavelength in the modified-wavelength light beam (5, 47, 57) are provided.
Η εφεύρεση αποκαλύπτει ένα μικροσκόπιο ανίχνευσης (1) που έχει ένα λέιζερ (2), το οποίο εκπέμπει μια ελαφριά ακτίνα ενός πρώτου μήκους κύματος (5 ..43, 53) και κατευθύνονται επάνω σε ένα οπτικό στοιχείο (9) που τροποποιεί το μήκος κύματος της ελαφριάς ακτίνας τουλάχιστον ως ένα ορισμένο βαθμό. Μέσα (16) για την καταστολή του φωτός του πρώτου μήκους κύματος στην ελαφριά ακτίνα τροποποιώ-μήκους κύματος (5 ..47, 57) παρέχονται.
