An ICP analyzer has a nebulizer for nebulizing a sample fluid for the
purpose of analyzing microscopic impurities within the sample fluid, a
plasma torch for introducing nebulized spray into a plasma, and a spray
chamber disposed between the nebulizer and the plasma torch for separating
spray comprised of microscopic particles from the nebulized spray prior to
introduction thereof into the plasma torch. A heating section is provided
at a central portion of the spray chamber and a cooling section is
provided at a peripheral section of the spray chamber, and the spray is
passed between the heating section and the cooling section to improve the
efficiency sample introduction into the plasma to enable highly sensitive
analysis by suppressing the proportion of a solvent component that reaches
the plasma torch.
Een ICP analysator heeft een verstuiver voor het nebulizing van een steekproefvloeistof voor het analyseren van microscopische onzuiverheden binnen de steekproefvloeistof, een plasmatoorts want het introduceren nevel in een plasma nebulized, en een nevelkamer die tussen de verstuiver en de plasmatoorts wordt geschikt voor het scheiden van nevel die van microscopische deeltjes wordt samengesteld van nebulized nevel daarvan voorafgaand aan inleiding in de plasmatoorts. Een het verwarmen sectie wordt verstrekt bij een centraal gedeelte van de nevelkamer en een koelsectie wordt verstrekt bij een randsectie van de nevelkamer, en de nevel wordt overgegaan tussen de het verwarmen sectie en de koelsectie om de inleiding van de efficiencysteekproef in het plasma te verbeteren om hoogst gevoelige analyse toe te laten door het aandeel van een oplosbare component te onderdrukken die de plasmatoorts bereikt.
